| Revista: | Anales AFA |
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| Número de sistema: | 000532798 |
| ISSN: | 1850-1168 |
| Autores: | Filgueira, L. E.1 Schmiegelow, C. T.1 |
| Instituciones: | 1Universidad de Buenos Aires, Instituto de Física de Buenos Aires, Argentina |
| Año: | 2021 |
| Periodo: | Abr |
| Volumen: | 32 |
| Número: | 1 |
| Paginación: | 15-21 |
| País: | Argentina |
| Idioma: | Español |
| Resumen en español | Se describe el desarrollo de un interferómetro capaz de medir vibraciones sin contacto. Los resultados obtenidos demuestran su capacidad para medir desplazamientos micrómetricos y/o nanómetricos, sin la necesidad de estabilizar el láser. Si bien existen múltiples técnicas para llevar a cabo este objetivo, en este caso se utiliza una técnica cuya principal virtud es el bajo conteo de componentes y la capacidad de auto-alinearse. La técnica que describimos se basa en el efecto que produce la realimentación óptica en un diodo láser y la utilización de referencias internas para el calibrado. |
| Resumen en inglés | We present the development of an interferometer capable of making contactless measurements of vibrations. The results show the we achieve micro- and/or nano-metric measurements without the stabilization of the laser. While there are multiple techniques to achieve this objective, in this case we use a method whose main virtue is the low component count and the self-alignment capacity. The method is based on the optical feedback effect in a laser diode which relies on the use of an internal reference for calibration. |
| Palabras clave: | Interferometría, Vibrometría, Medición de desplazamientos, Diodo láser, Realimentación óptica |
| Keyword: | Interferometry, Vibrometry, Displacement measurement, Laser diode, Optical feedback |
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