| Revista: | Visión electrónica |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000460862 |
| ISSN: | 1909-9746 |
| Autores: | Rodríguez Barrera, Mario Alberto1 Pereira Carpes Jr., Walter2 |
| Instituciones: | 1Universidad Distrital Francisco José de Caldas, Bogotá. Colombia 2Universidade Federal de Santa Catarina, Florianopolis, Santa Catarina. Brasil |
| Año: | 2018 |
| Periodo: | Jul-Dic |
| Volumen: | 12 |
| Número: | 2 |
| Paginación: | 226-233 |
| País: | Colombia |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Prospectivo |
| Resumen en español | El análisis paramétrico usado en la determinación de los efectos de los parámetros geométricos y los asociados al dieléctrico en Superficies Selectivas en Frecuencia (SSF), es una herramienta de uso generalizado debido a la ausencia de formulaciones que permitan evaluar este tipo de efectos. El objetivo de esta clase de análisis es determinar la influencia en la frecuencia de resonancia de un parámetro en particular, bien sea asociado al soporte dieléctrico o a los parámetros geométricos de la superficie selectiva, con la finalidad de orientar el proceso de diseño de la superficie. En este artículo se presenta la aplicación del Modelo de Circuito Equivalente (MCE) actuando en conjunto con una novedosa formulación de la permitividad efectiva del dieléctrico en SSF tipo bucle cuadrado, el cual permite determinar los efectos de los parámetros geométricos y los asociados al dieléctrico en la frecuencia de resonancia de la superficie selectiva, haciendo innecesario el uso de análisis de tipo paramétrico. Los resultados obtenidos muestran una exactitud aceptable cuando se comparan con los arrojados por las simulaciones electromagnéticas realizadas en un software basado en el Método de los Elementos Finitos (MEF) |
| Resumen en inglés | The parametric analysis used in the determination of effects of parameters, both geometrical and associated to dielectric in Frequency Selective Surfaces (FSS) constitutes a method of widespread use as a result of the scarcity of formulations for the assessment of this type of effects. The objective of this method of analysis is to determine the influence in resonant frequency of a particular parameter, either associated to the dielectric support or to the geometrical parameters of the selective surface, in order to guide the process of design of the surface. This article presents the application of the Equivalent Circuit Model (ECM) acting in conjunction with an innovative formulation of the effective permittivity of the dielectric in square loop FSS, that enables the determination of the geometrical parameters and those associated to the dielectric on resonant frequency of the selective surface. The proposed methodology makes unnecessary the use of analysis of parametric type. The results obtained show an acceptable accuracy in comparison with the electromagnetic simulations performed in software based on Finite Element Method (FEM) |
| Disciplinas: | Ciencias de la computación, Física |
| Palabras clave: | Análisis paramétrico, Dieléctricos, Modelo de circuito equivalente, Parámetros, Parámetros geométricos, Superficies selectivas en frecuencia |
| Keyword: | Dielectrics, Equivalent Circuit Model, Frequency selective surfaces, Geometric parameters, Parameters, Parametric analysis |
| Texto completo: | https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/visele/article/view/14461/14584 |
