Análisis de campos de esfuerzos utilizando fotoelasticidad visible e infrarroja



Título del documento: Análisis de campos de esfuerzos utilizando fotoelasticidad visible e infrarroja
Revista: Visión electrónica
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000461803
ISSN: 1909-9746
Autores: 1
1
2
1
Instituciones: 1Universidad Nacional de Colombia, Grupo de Investigación y Desarrollo en Inteligencia Artificial,
2Instituto Tecnológico Metropolitano, Grupo de Investigación en Automática y Electrónica, Bogotá. Colombia
Año:
Volumen: 11
Número: 1
Paginación: 89-98
País: Colombia
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Resumen en español Análisis de campos de esfuerzos en imágenes de fotoelasticidad son llevados a cabomediante descriptores de textura en este art ́ıculo; en este caso, los descriptoresconsiderados permiten identificar zonas con altas concentraciones de esfuerzo,incluso en casos con pérdida de contraste, los cuales son por lo general atribuidosa la baja resoluci ́on espacial de las franjas. De manera adicional, en este trabajo seanaliza la variaci ́on en la densidad de franjas en t ́erminos de la longitud de onda.Esto ́ultimo se hace extendiendo la generación de imágenes de fotoelasticidad en elinfrarrojo lejano
Resumen en inglés In this paper, stress fields analysis in photoelasticity digital images is carried out byusing texture descriptors. In this case, such descriptors can identify zones with highstress concentration, even for cases with low spatial resolution in fringe patterns. Inaddition, this paper analyzes the variation that those fringes experience in functionto wavelength. For this process, generating the photoelasticity images is extendedto the far infrared
Disciplinas: Física,
Optica
Palabras clave: Análisis de esfuerzos,
Campos de esfuerzo,
Fotoelasticidad,
Imágenes digitales,
Infrarrojo,
Luz visible
Keyword: Optics,
Digital images,
Infrared,
Photoelasticity,
Stress analysis,
Stress fields,
Visible light
Texto completo: https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/visele/article/view/12790/13245