| Revista: | Superficies y vacío |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000368092 |
| ISSN: | 1665-3521 |
| Autores: | Aguilar, J.O1 Sánchez Pool, G1 López Mata, C1 Acosta, R1 Hernández, J1 Gómez Daza, O2 Campos, J2 |
| Instituciones: | 1Universidad de Quintana Roo, División de Ciencias e Ingeniería, Chetumal, Quintana Roo. México 2Universidad Nacional Autónoma de México, Centro de Investigación en Energía, Temixco, Morelos. México |
| Año: | 2010 |
| Periodo: | Mar |
| Volumen: | 23 |
| Número: | 1 |
| Paginación: | 6-12 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Experimental, aplicado |
| Resumen en español | Se presenta la tasa de degradación óptica de películas delgadas semiconductoras de sulfuro de cobre expuestas al medio ambiente. Los análisis de composición química realizados con EDAX (Energy Dispersive Analysis X–Ray) mostraron un incremento de oxígeno (3.6% a 9.5% w/w) en películas expuestas al ambiente en comparación con las almacenadas en bolsas plásticas, lo que ocasiona una rápida degradación. La caracterización óptica de las películas semiconductoras muestra que conforme transcurre el tiempo, la transmitancia aumenta en las regiones ultravioleta, visible, y cercano infrarrojo. Esta variación en los parámetros ópticos está estrechamente relacionada con la reducción del contenido de cobre en las películas de CuS |
| Resumen en inglés | Optical degradation rate of CuS semiconductor thin films exposed to atmosphere was presented. The EDAX showed an increment of oxygen contents (3.6% to 9.5% w/w) in thin films exposed to atmosphere in comparison with the stored in plastic bags which lead to fast degradation. The CuS thin film optical characterization shows, that the thin films aging it cause a major transmittance values in ultraviolet, visible and near infrared spectral regions, which means a thermal load gain trough this films. This variation in the optical parameters is closely related to the reduction of Cu in the thin film |
| Disciplinas: | Ingeniería |
| Palabras clave: | Ingeniería de materiales, Películas delgadas, Sulfuro de cobre, Degradación óptica, Semiconductores, Transmitancia óptica |
| Keyword: | Engineering, Materials engineering, Thin films, Copper sulfides, Optical degradation, Semiconductors, Optical transmittance |
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