| Revista: | Revista mexicana de física |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000383628 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Autores: | Coello, V1 Villagómez, R1 Cortés, R1 López, R1 Martínez, C2 |
| Instituciones: | 1Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Apodaca, Nuevo León. México 2Universidad Autónoma de Nuevo León, Facultad de Ciencias Físico-Matemáticas, San Nicolás de los Garza, Nuevo León. México |
| Año: | 2005 |
| Periodo: | Ago |
| Volumen: | 51 |
| Número: | 4 |
| Paginación: | 426-430 |
| País: | México |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico, descriptivo |
| Resumen en español | El control local de microondas evanescentes es investigado experimentalmente usando un microscopio de barrido de campo cercano en el rango de microondas. Las capacidades del microscopio y la contribución, en las imágenes de campo cercano, de componentes de campo propagativas que proviene de esparcimiento inelástico (fuera del plano) fueron investigadas. Un sistema de espejos bidimensional que sirven para un control local de modos evanescentes es mostrado junto con su correspondiente imagen de cercano-campo y su eficacia es discutida. Nosotros creemos que la aproximación experimental presentada es confiable para ser utilizada como prueba potencial de micro-componentes (de dos dimensiones) y eventualmente para micro y nano-circuitos |
| Resumen en inglés | Local control of evanescent microwaves is experimentally investigated using a scanning near-field microwave microscope. The capabilities of the microscope and the contribution, on the near field images, of propagating field components stemming from inelastic (out-of-plane) scattering were elucidated. A set of two-dimensional mirrors for a local control of evanescent modes are shown along with their corresponding near-field image, and their efficiency is discussed. We believe that the experimental approach used is reliable enough to be used as a check of potential (two-dimensional) micro-components and possibly for micro and nano-circuits |
| Disciplinas: | Física y astronomía |
| Palabras clave: | Optica, Microscopía óptica de barrido, Radiación de microondas, Optica de ondas |
| Keyword: | Physics and astronomy, Optics, Scanning optical microscopy, Microwave radiation, Wave optics |
| Texto completo: | Texto completo (Ver PDF) |
