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Optical characterization of thin and ultrathin chromium films
Siqueiros, J.M1; Machorro, R; Shu Wang; Talavera, L.E; Portelles, J; Villa, F
1Universidad Nacional Autónoma de México, Centro de Ciencias de la Materia Condensada, Ensenada, Baja California. México; 2Centro de Investigaciones en Optica A.C, León, Guanajuato. México
[ Revista mexicana de física, México, 1999 Vol. 45 Núm. 6 Dic, Pág. 593-596]
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Recuperación de perfiles a partir de la fase en la imagen en microscopía óptica de barrido
Aguilar, J. Félix1; Muñoz López, Javier; Gale, David M
1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Coordinación de Optica, Tonantzintla, Puebla. México
[ Revista mexicana de física, México, 1999 Vol. 45 Núm. 6 Dic, Pág. 575-580]
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Aplicación de un modelo de advección-difusión para dispersión de ceniza volcánica: erupción volcán Hudson (1991), Chile
Parra, Juan1; Figueroa, Dante2
1Universidad de La Frontera, Departamento de Ciencias Físicas, Temuco, Cautín. Chile; 2Universidad de Concepción, Departamento de Física de la Atmósfera y del Océano, Concepción. Chile
[ Revista mexicana de física, México, 1999 Vol. 45 Núm. 5 Oct, Pág. 466-471]
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Formación y caracterización de materiales vítreos preparados por la técnica sol-gel
Martínez, J.R1; Ruiz, F; De la Cruz Mendoza, J.A; Villaseñor González, P
1Universidad Autónoma de San Luis Potosí, Facultad de Ciencias, San Luis Potosí. México; 2Universidad Autónoma de San Luis Potosí, Instituto de Física, San Luis Potosí. México
[ Revista mexicana de física, México, 1999 Vol. 45 Núm. 5 Oct, Pág. 472-479]
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Introducción a la deformación plástica por movimiento de dislocaciones mediante el uso de analogías y el concepto de energía
Ugalde, P1; Canales, A; Mendoza Allende, A; Montemayor Aldrete, J.A
1Universidad Autónoma Metropolitana, Azcapotzalco, Distrito Federal. México; 2Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Física, México, Distrito Federal. México
[ Revista mexicana de física, México, 1999 Vol. 45 Núm. 5 Oct, Pág. 501-509]
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Simultaneous measure of refractive index and thickness of dielectric plane parallel plates by fringe counting: a case for generalized regression
Rodríguez Zurita, Gustavo1; Pastrana Sánchez, R; Vázquez Castillo, J
1Centro de Investigaciones en Optica A.C, León, Guanajuato. México; 2Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Facultad de Ciencias Físico Matemáticas, Puebla. México
[ Revista mexicana de física, México, 1999 Vol. 45 Núm. 5 Oct, Pág. 490-495]
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