| Revista: | Mundo nano. Revista interdisciplinaria en nanociencias y nanotecnología |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000434324 |
| ISSN: | 2448-5691 |
| Autores: | Lizardi Nieto, Víctor José1 González Rojano, Norma2 |
| Instituciones: | 1Centro Nacional de Metrología, Dirección General, El Marqués, Querétaro. México 2Centro Nacional de Metrología, Programa de Metrología para las Nanotecnologías, El Marqués, Querétaro. México |
| Año: | 2016 |
| Periodo: | Ene-Jun |
| Volumen: | 9 |
| Número: | 16 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Nota breve o noticia |
| Enfoque: | Descriptivo |
| Resumen en español | La metrología juega un papel fundamental en el sostenimiento de una sociedad eficiente y tecnológicamente justa. El Centro Nacional de Metrología, CENAM, fue creado con el fin de apoyar al sistema metrológico nacional y entre sus funciones principales está el establecimiento y el mantenimiento de los patrones nacionales de medida y materiales de referencia certificados, mediante los cuales es posible asegurar la uniformidad entre las mediciones que se realizan en México. El avance de la tecnología y las exigencias de competitividad de los mercados fomentan el desarrollo tecnológico de los sectores productivos maduros, dinámicos y emergentes. La nanotecnología, considerada como una tecnología emergente, promete un gran potencial para aplicaciones y beneficios que pueden contribuir a la economía y a la protección de la salud y el ambiente en el país, pero también presenta retos en cuanto a la infraestructura metrológica que se requiere para sustentar su desarrollo. Este artículo muestra las actividades que realiza el CENAM por medio de su Programa de Metrología para las Nanotecnologías para atender de manera sistemática, las necesidades de medición en la nanoescala y plantea las perspectivas para el soporte de las nanociencias y para el aprovechamiento de las nanotecnologías |
| Resumen en inglés | Metrology plays an important role in a sustainable, efficient and technological society. The Centro Nacional de Metrologia, CENAM, was created to support the National Metrology System. The main objectives are to establish and maintain the National Measurement Standards and certify reference materials, to assure the uniformity of measurements in Mexico. Progress in technology and achieving a competitive market promote the technological development of dynamic, mature and emerging sectors. It is clear that emerging technologies like Nanotechnology have the potential of applications and benefits to the economy. On the other hand, support the environment and human health protection in the country as well. However, one important challenge is the availability of the metrological infrastructure required to underpin their development. This article describes briefly CENAM’s Metrology for Nanotechnology Programme, established with the aim of responding in a systematic way to the nanoscale measurement needs and outline perspectives to support nanosciences and take advantage of nanotechnologies |
| Disciplinas: | Ingeniería, Matemáticas |
| Palabras clave: | Ingeniería de instrumentos, Matemáticas aplicadas, Metrología, Patrones de medida, Nanotecnología, Mediciones |
| Keyword: | Instrumentation engineering, Applied mathematics, Metrology, Measurement standards, Nanotechnology, Measurements |
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