421.- |
|
|
422.- |
Medidor de espesores con fuente radiactiva
Romero Parra, E1; Gutiérrez, M.C2
1Instituto Nacional de Investigaciones Nucleares, México, Distrito Federal. México; 2Instituto Politécnico Nacional, Esc Sup Ingenieria Mecanica Electrica, México, Distrito Federal. México
[ Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica, México, 1986 Núm. 8 Oct, Pág. 133-139]
|
|
423.- |
|
|
424.- |
|
|
425.- |
|
|
426.- |
Oxido de silicio crecido termicamente usando tricloroetano como fuente de cloro
Torres, A1; Martínez, B; Aceves, M; Fuentes, I
1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Tonantzintla, Puebla. México
[ Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica, México, 1986 Núm. 8 Oct, Pág. 75-79]
|
|
427.- |
|
|
428.- |
|
|
429.- |
|
|
430.- |
Sistema de adquisicion y control de informacion, basado en el microprocesador de 16 " bits " (intel)
Cuazitl Tehutli, F1; Aguilar Vazquez, J; Arzola Duenas, L.R; Espinoza Zarate, M.A; Loera Angeles, G
1Instituto Tecnológico de Chihuahua, Centro de Graduados e Investigación, Chihuahua. México
[ Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica, México, 1986 Núm. 8 Oct, Pág. 252-274]
|
|
431.- |
|
|
432.- |
|
|
433.- |
|
|
434.- |
Sistema trazador de curvas
Silva, D1; Aguilar, P; Pérez, G; Alba, R; Blanco, C; Ríos, F; De La Cruz, H
1Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Inst Ciencias, Dep Semiconductores, Puebla. México
[ Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica, México, 1986 Núm. 8 Oct, Pág. 147-156]
|
|
435.- |
|
|
436.- |
|
|
437.- |
|
|
438.- |
|
|
439.- |
|
|
440.- |
|
|