| Revista: | Memoria Electro - Congreso Internacional de Ingeniería Electrónica |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000274560 |
| ISSN: | 1405-2172 |
| Autores: | Claudio Sánchez, A1 Lafore, D2 Orozco, Jaime A Cahue Díaz, G |
| Instituciones: | 1Centro Nacional de Investigación y Desarrollo Tecnológico, Cuernavaca, Morelos. México 2Technopole Marseille Provence a Chateau-Gombert, Marseille, Bouches-du-Rhone. Francia |
| Año: | 1996 |
| Periodo: | Oct |
| Volumen: | 18 |
| Paginación: | 352-357 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Aplicado |
| Resumen en español | La gran variedad de dispositivos disponibles en el mercado y los diferentes tipos de conmutación aplicados en los convertidores, dificulta la adecuada selección de los componentes en función de su capacidad real. Se propone una nueva metodología de estudio y caracterización de los dispositivos semiconductores de potencia, orientada al diseñador de convertidores. Este trabajo presenta el diseño de un sistema de pruebas el cual consiste de una tarjeta de interfaz para la generación de las ordenes de control, circuito de potencia, sistema de medición de señales y procedimiento de corrección de errores en electrónica de potencia |
| Resumen en inglés | The different switching modes and types of components in the market difficult the selection of these based on their real capability. We present a new methodology of study and charcaterization of power semiconductors for power converters design. This work presents the design considerations of a test system, it consist of an interface board for control signal generation, power circuit, signal measurement system and error correction in power electronic |
| Disciplinas: | Ingeniería |
| Palabras clave: | Ingeniería electrónica, Circuitos electrónicos, Electrónica de potencia, Convertidores, Banco de pruebas, Semiconductores de potencia, Caracterización |
| Keyword: | Engineering, Electronic engineering, Electronic circuits, Power electronics, Converters, Test bench, Power semiconductors, Characterization |
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