| Revista: | Dyna (Medellín) |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000391086 |
| ISSN: | 0012-7353 |
| Autores: | Bonilla Jaimes, John Deiver1 Henao Martínez, José Antonio1 Mendoza Luna, Carolina2 Castellanos Alarcón, Oscar Mauricio3 Ríos Reyes, Carlos Alberto4 |
| Instituciones: | 1Universidad Industrial de Santander, Escuela de Química, Bucaramanga, Santander. Colombia 2Universidad Industrial de Santander, Escuela de Física, Bucaramanga, Santander. Colombia 3Universidad de Pamplona, Programa de Geología, Pamplona, Norte de Santander. Colombia 4Universidad Industrial de Santander, Escuela de Geología, Bucaramanga, Santander. Colombia |
| Año: | 2016 |
| Periodo: | Feb |
| Volumen: | 83 |
| Número: | 195 |
| Paginación: | 84-92 |
| País: | Colombia |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Aplicado, descriptivo |
| Resumen en español | Mediante el uso de la difracción de rayos-X de polvo (DRXP), microdifracción de rayos-X (mDXR) y microscopía electrónica de barrido, la caracterización estructural de minerales resulta ser mucho más fiable y precisa. La identificación y cuantificación elemental y composicional de los minerales mediante estas técnicas no destructivas, mejoran la calidad de los resultados y permiten realizar un análisis completo del material. Los datos obtenidos mediante estas técnicas revelaron la presencia de granate tipo espesartina, además de los elementos y compuestos trazas que conforman el material en general. El refinamiento estructural de la espesartina fue realizado mediante el método Rietveld a partir de los datos obtenidos por difracción convencional y con ayuda del software de análisis MDI RIQAS. Con los datos adquiridos por mDXR usando un detector de área, un menor tiempo de exposición (comparado con el requerido en detectores 0D y 1D) y sin la necesidad de la disminución del tamaño de partícula del mineral, fue posible la identificación de la espesartina y otros compuestos en menor concentración (mediciones "in situ"). Mediante la combinación de las técnicas de microscopía electrónica de barrido y microdifracción de rayos X, tanto de trabajo desde un punto de vista de la caracterización. El examen por difracción de micro-rayos X no requiere la separación física de la muestra. Usando esta información y las técnicas analíticas avanzadas anteriores, la identificación de granate puede ser mucho más fiable |
| Resumen en inglés | By using the X-ray powder diffraction (XRPD) micro X-rays diffraction (mXRD) and scanning electron microscopy, the structural characterization of minerals is far more reliable and accurate. The identification and elemental and compositional quantification of minerals by these non-destructive techniques improve the quality of the results and allow a full analysis of the material. The data obtained by these techniques revealed the presence of garnet-type spessartine, in addition to trace elements and compounds that form the overall material. The structural refinement of spessartine was performed using the Rietveld method from data obtained by conventional diffraction and by using the MDI RIQAS analysis software. With the data acquired by mXRD using an area detector, a shorter exposure time (compared to that required by the 0L and 1D detectors) was achieved, and there was no need for particle size reduction of the mineral. It was also possible to identify the spessartine and other compounds in smaller concentrations (in situ measurements). By combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques, both worked from a characterization point of view. The examination by micro X-ray diffraction did not require physical separation of the sample. Using this information and the above advanced analytical techniques, the identification of garnet can be undertaken much more reliably |
| Disciplinas: | Ingeniería, Química |
| Palabras clave: | Ingeniería metalúrgica, Química analítica, Granate, Caracterización química, Microscopía electrónica de barrido, Difracción de rayos X |
| Keyword: | Engineering, Chemistry, Metallurgical engineering, Analytical chemistry, Garnet, Chemical characterization, Scanning electron microscopy, X-ray diffraction |
| Texto completo: | Texto completo (Ver HTML) |
