| Revista: | Dyna (Medellín) |
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| Número de sistema: | 000544175 |
| ISSN: | 0012-7353 |
| Autores: | RESTREPO PARRA, ELISABETH1 RIAÑO ROJAS, JUAN CARLOS2 SERNA MORALES, ANDRÉS FELIPE3 CÁRDENAS PEÑA, DAVID3 PRIETO ÓRTIZ, FLAVIO AUGUSTO4 |
| Instituciones: | 1Universidad Nacional de Colombia, M.Sc. Física, Manizales. 2Universidad Nacional de Colombia, M.Sc. Matemáticas, Manizales. 3Universidad Nacional de Colombia, Manizales. 4Universidad Nacional de Colombia, Bogotá. |
| Año: | 2009 |
| Periodo: | Sep |
| Volumen: | 76 |
| Número: | 159 |
| Paginación: | 205-215 |
| País: | Colombia |
| Idioma: | Español |
| Resumen en español | En este trabajo el primer paso consistió en llevar a cabo un suavizado y un filtrado de la señal, con el fin de eliminar el ruido y la información no relevante. La segunda parte consiste en la determinación automática de las longitudes de onda de los picos o máximos. Luego, se lleva a cabo la identificación elemental química de los picos empleando una base de datos especializada. Después de esto, el software permite la determinación de características necesarias para los cálculos como intensidad, FWHM (por su sigla en inglés Full Width at half Maximum, en español Ancho total a la Mitad del Máximo), los valores del continuo y el perfil de las líneas. Estos parámetros fueron empleados junto con métodos espectroscópicos tales como la gráfica de Boltzmann, relación entre intensidades de líneas de diferente grado de ionización y relación línea-continuo para determinar Texc= 4778.32 K, n e=2.54 10(17) cm-3 y Te= 2668 K respectivamente. Estos valores son similares a los reportes, para este tipo de plasmas. El beneficio principal del software consintió en llevar a cabo todo el estudio del plasma en tiempo muy corto (del orden de segundos), mientras que su análisis manual puede tomar varios días. |
| Resumen en inglés | In this work, an automatic extraction of characteristics from spectra taken during coatings production by plasma assisted techniques is proposed. The optical spectra also depend on these external parameters. The first step consists on carried out a filtering and smoothing of the signal, in order to eliminate the noise and non important information. The second step refers to determine automatically the wavelength of peaks. Then, the identification of chemical elements for each peak was done from a specialized data bases. After that, the software allows to determine peak characteristics such as intensity, FWHM (Full With at Half Maximum), continuous and the line profile. These parameters were employed together with spectroscopic methods such as Boltzmann plot, different ionization degree line to line ratio and line to continuous ratio in order to determine Texc= 4778.32 K, n e=2.54 10(17) cm-3 y Te= 2668 K respectively. These values are similar to those reported in the literature, for this kind of plasmas. The principal advantage of this software was the possibility to analyze the plasma in very short time (in order of seconds), while the manual process can take several days. |
| Palabras clave: | Espectroscopía óptica de emisión, Películas delgadas, Plasma, Extracción automática de caracteres |
| Keyword: | Optical emission spectroscopy, Thin films, Plasma, Automatic extraction of characteristics |
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