Microscopía de fuerza atómica. Control de la superficie de los semiconductores
Título del documento: Microscopía de fuerza atómica. Control de la superficie de los semiconductores
Revista: Ciencia y desarrollo
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000212890
ISSN: 0185-0008
Autores:


Año:
Periodo: Mar-Abr
Volumen: 28
Número: 163
Paginación: 68-77
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Descriptivo, divulgación
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física de materia condensada,
Optica,
Microscopía de fuerza atómica,
Superficies,
Semiconductores,
Heteroestructuras,
Capas nanométricas,
Cristales fotónicos
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Atomic force microscopy,
Surfaces,
Semiconductors,
Heterostructures,
Nanometric layers,
Photonic crystals
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)