Spatial sensitivity characterization of the photorefractive BI12 TIO20 crystal by anisotropic self difraction at lamda= 0.633 MUM
Título del documento: Spatial sensitivity characterization of the photorefractive BI12 TIO20 crystal by anisotropic self difraction at lamda= 0.633 MUM
Revista: Brazilian journal of physics
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000128422
ISSN: 0103-9733
Autores: 1
Instituciones: 1Universidade Federal Fluminense, Instituto de Fisica, Niteroi, Rio de Janeiro. Brasil
Año:
Periodo: Mar
Volumen: 22
Número: 1
Paginación: 7-10
País: Brasil
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física de materia condensada,
Optica,
Sensibilidad,
Fotorrefracción,
Cristales,
Láser,
Difusión
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Optics,
Sensitivity,
Photorefraction,
Crystals,
Laser,
Diffusion
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