| Revista: | Acta microscópica |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000274567 |
| ISSN: | 0798-4545 |
| Autores: | Eades, J.A1 Joy, D.C2 |
| Instituciones: | 1Lehigh University, Department of Materials Science and Engineering, Bethlehem, Pensilvania. Estados Unidos de América 2University of Tennessee, Department of Materials Science and Engineering, Knoxville, Tennessee. Estados Unidos de América |
| Año: | 2007 |
| Volumen: | 16 |
| Número: | 1-2 |
| Paginación: | 1-7 |
| País: | Venezuela |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Experimental, aplicado |
| Resumen en español | Se describe un nuevo modo para representar la fracción de ionizaciones que resultan en la emisión de rayos X. En estudios anteriores, siempre se ha dado relaciones empíricas para representar los datos experimentales en términos del número atómico de los átomos. Aquí presentamos nuevas expresiones analíticas para esta fracción, pero en términos de la energía del rayo x emitido. Al hacerlo en esta forma, los valores para las líneas K, L y M caen muy cerca unos de los otros. La búsqueda de una curva universal de este tipo fue uno de los motivos del estudio. De hecho, resulto necesario utilizar ecuaciones diferentes para K, L y M. Las nuevas expresiones analíticas serán, en muchos casos, mejores que los datos experimentales (que traen errores muy grandes) y los valores dados tendrían un error de menos de 20%. Estos resultados serían útiles en la espectroscopia de rayos x para microanálisis |
| Resumen en inglés | A new parameterization for the fluorescence yield of K, L and M lines is presented. The motivation was to find a universal parameterization in terms of energy, rather than in terms of atomic number (Z) the way it has normally been done. If the values of the fluorescence yield are plotted against energy, something close to a universal curve is found. However, the difference between the curves for K and L lines is significantly larger than the error and separate parameterizations for K, L and M are given. The uncertainties in the experimental data are very large and the parameterization is expected to be better than the experimental values in many cases. The parameterization values are probably good to 20%. The result presented may be of value in x-ray spectroscopy when values of the fluorescence yield are needed |
| Disciplinas: | Física y astronomía |
| Palabras clave: | Optica, Fluorescencia de rayos X, Microanálisis, Ionización, Ajuste de curvas, Espectroscopía |
| Keyword: | Physics and astronomy, Optics, X-ray fluorescence, Microanalysis, Ionization, Curve fitting, Spectroscopy |
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