Revista: | Superficies y vacío |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000252146 |
ISSN: | 1665-3521 |
Autores: | Rubín Falfán, M1 Lozada Morales, R2 Rivera Márquez, J.A Palomino Merino, M.R Protillo Moreno, O3 Dávila Pintle, J.A4 Zelaya Angel, O5 |
Instituciones: | 1Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Facultad de Ciencias de la Computación, Puebla. México 2Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Facultad de Ciencias Físico Matemáticas, Puebla. México 3Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Facultad de Ciencias Químicas, Puebla. México 4Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Facultad de Ciencias de la Electrónica, Puebla. México 5Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México |
Año: | 2001 |
Periodo: | Dic |
Volumen: | 13 |
Paginación: | 130-133 |
País: | México |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Experimental, descriptivo |
Disciplinas: | Ingeniería |
Palabras clave: | Ingeniería de materiales, Semiconductores, Películas, Propiedades eléctricas, Sulfuro de cadmio |
Keyword: | Engineering, Materials engineering, Semiconductors, Films, Electrical properties, Cadmium sulfide |
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