Revista: | Revista mexicana de física |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000201686 |
ISSN: | 0035-001X |
Autores: | Avila, R.E1 Navarro, P.O Martin, V. del C Fernández, L.M Sylverster, G Retuert, P.J Gramsch, E |
Instituciones: | 1Comisión Chilena de Energía Nuclear, Santiago de Chile. Chile 2Universidad de Chile, Facultad de Ciencias Físicas y Matemáticas, Santiago de Chile. Chile 3Universidad de Santiago de Chile, Departamento de Física, Santiago de Chile. Chile |
Año: | 2002 |
Periodo: | Dic |
Volumen: | 48 |
Paginación: | 49-51 |
País: | México |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Disciplinas: | Física y astronomía |
Palabras clave: | Física, Física de materia condensada, Optica, Películas delgadas, Propiedades dieléctricas, Física de superficies, Indice de refracción |
Keyword: | Physics and astronomy, Condensed matter physics, Optics, Physics, Thin films, Dielectric properties, Surface physics, Refraction index |
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