Revista: | Revista mexicana de física |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000119762 |
ISSN: | 0035-001X |
Autores: | Cabrera, E1 Espejel, R Medina, V Toca, R |
Instituciones: | 1Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Física, México, Distrito Federal. México |
Año: | 1980 |
Volumen: | 26 |
Número: | 3 |
Paginación: | 513-524 |
País: | México |
Idioma: | Español |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Disciplinas: | Física y astronomía |
Palabras clave: | Electromagnetismo, Optica, Microscopía electrónica de barrido |
Keyword: | Physics and astronomy, Electromagnetism, Optics, Scanning electron microscopy |
Solicitud del documento | |