| Revista: | Revista mexicana de física |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000196073 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Autores: | Palomares Sánchez, S.A1 Ponce Castañeda, S Martínez, J.R Ruiz, Facundo |
| Instituciones: | 1Istituto Materiali Speciali per Elettronica e Magnetismo, Parma, Emilia Romagna. Italia 2Universidad Autónoma de San Luis Potosí, Facultad de Ciencias, San Luis Potosí. México 3Instituto Potosino de Investigación Científica y Tecnológica, A.C., San Luis Potosí. México |
| Año: | 2002 |
| Periodo: | Oct |
| Volumen: | 48 |
| Número: | 5 |
| Paginación: | 438-442 |
| País: | México |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Nota breve o noticia |
| Enfoque: | Analítico |
| Resumen en español | Se usa una variación del método de refinamiento Rietveld para calcular el porcentaje amorfo de compuestos formados por óxidos de fierro embebidos en una matriz amorfa de silica xerogel. Para refinar la estructura amorfa, se parte de un modelo cristalino con la misma composición del material que se va a modelar. En este trabajo se pretende refinar la estructura de los compuestos usando el programa MAUD. Se muestra que el programa puede ser usado para determinar las fracciones amorfas y cristalinas en compuestos que consisten de una matriz amorfa con incorporación de partículas de óxido de fierro. El análisis de fases se realiza en muestras con diferentes tratamientos térmicos |
| Resumen en inglés | We use a variation of the Rietveld refinement method to calculate the amorphous content of composites formed by a silica xerogel amorphous matrix and iron particles embedded into. In order to apply the Rietveld refinement to amorphous structures an initial crystalline model is assumed with the same composition as the material to be modelled. In this work we try to refine the structure of compounds using the program MAUD. It is shown how this program can be used to determine the amorphous and crystalline fractions in composites consisting of an amorphous matrix and incorporated iron oxide particles. The analysed compounds underwent different thermal treatments |
| Disciplinas: | Física y astronomía |
| Palabras clave: | Física, Física de materia condensada, Vidrios silicatos, Sol-gel, Rayos X, Patrones de difracción, Oxido de fierro |
| Keyword: | Physics and astronomy, Condensed matter physics, Physics, Silicate glasses, Sol-gel, X-rays, Diffraction patterns, Iron oxide |
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