Caracterizacion difractometrica rapida de texturas afiladas por modelacion gausiana
Título del documento: Caracterizacion difractometrica rapida de texturas afiladas por modelacion gausiana
Revista: Revista cubana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000095416
ISSN: 0253-9268
Autores: 1
Instituciones: 1Universidad de La Habana, Fac Fisica Matematica, La Habana. Cuba
Año:
Volumen: 9
Número: 1
Paginación: 3-11
País: Cuba
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Descriptivo
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física atómica y molecular,
Física de materia condensada,
Difracción,
Policristales,
Computación
Keyword: Physics and astronomy,
Atomic and molecular physics,
Condensed matter physics,
Diffraction,
Polycrystals,
Computing
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