| Revista: | Mundo nano (en línea) |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000445505 |
| ISSN: | 2448-5691 |
| Autores: | Mendoza Ramírez, Miriam Carolina1 Avalos Borja, Miguel1 |
| Instituciones: | 1Instituto Potosino de Investigación Científica y Tecnológica, División de Materiales Avanzados, San Luis Potosí. México |
| Año: | 2020 |
| Periodo: | Jul-Sep |
| Volumen: | 13 |
| Número: | 25 |
| Paginación: | 61-78 |
| País: | México |
| Idioma: | Español, inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Aplicado, descriptivo |
| Resumen en español | En el presente trabajo se describen de forma didáctica los alcances de la microscopía electrónica de transmisión (TEM) para el estudio de nanosistemas. Las ilustraciones mostradas se adquirieron empleando muestras ilustrativas (nanopartículas de Au y películas de Si). A lo largo de este escrito se ejemplifica el uso de algunas técnicas TEM convencionales, como BF, DF, HAADF, SAED y EELS, así como también se ejemplifica el empleo de técnicas avanzadas de difracción, como CBED, LACBED y PED. También se brindan algunas sugerencias prácticas que permitirán describir y diferenciar de forma sencilla el contraste observado en algunas de las técnicas disponibles en el TEM. Todo con el objetivo de ofrecer una visión, llamativa, clara y didáctica de los alcances actuales de la microscopía electrónica en México |
| Resumen en inglés | The description of nanometric systems is still being a challenging topic, for this reason the transmission electron microscopy (TEM) scope is exemplified in a didactic way using several nanosystems (Au nanoparticles and thin Si films). Throughout this work, conventional TEM techniques such as bright field (BF), dark field (DF), high angle annular dark field (HAADF), selected area electron diffraction (SAED) and electron energy loss spectroscopy (EELS) are shown, emphaticizing the differences with less conventional techniques such as convergent beam electron diffraction (CBED), large angle convergent beam electron diffraction (LACBED) and precession electron diffraction (PED). Also, some practical suggestions are given for describing contrast found on several TEM techniques, offering a striking, clear and didactic vision of the current scopes of TEM in Mexico |
| Disciplinas: | Física y astronomía |
| Palabras clave: | Optica, Física atómica y molecular, Microscopía electrónica de transmisión, Difracción de electrones, Precesión, Haz convergente |
| Keyword: | Optics, Atomic and molecular physics, Transmission electron microscopy, Electron diffraction, Precession, Convergent beam |
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