| Revista: | Mundo nano (en línea) |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000445502 |
| ISSN: | 2448-5691 |
| Autores: | Calderón, Héctor A1 |
| Instituciones: | 1Instituto Politécnico Nacional, Escuela Superior de Física y Matemáticas, Ciudad de México. México |
| Año: | 2020 |
| Periodo: | Jul-Sep |
| Volumen: | 13 |
| Número: | 25 |
| Paginación: | 133-156 |
| País: | México |
| Idioma: | Español, inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico, descriptivo |
| Resumen en español | La microscopía electrónica es una herramienta importante en la caracterización de nanomateriales. En su modalidad de alta resolución, es posible obtener imágenes de las columnas de átomos que conforman una muestra, o si el espesor es una monocapa, pueden obtenerse imágenes de átomos. Normalmente, el producto es una imagen con intensidades específicas, que para ser interpretado correctamente, se debe considerar la interacción del haz electrónico con la muestra. En este trabajo, se describen algunas características importantes de la microscopía electrónica de alta resolución y de resolución atómica. Asimismo, se proporcionan ejemplos de observaciones en materiales específicos. Se da atención especial a la interacción de los electrones con la muestra para obtener imágenes que reproduzcan la distribución atómica genuina y sin modificación por un haz electrónico demasiado intenso |
| Resumen en inglés | Electron microscopy is an important tool in characterizing nanomaterials. In its high resolution mode, it is possible to obtain images of the columns of atoms that make up a sample or if the thickness is a monolayer, images of atoms can be obtained. Normally the product image has specific intensities that require proper interpretation, additionally there is a need to consider the electron beam interaction with the sample. In this work, some important characteristics of high resolution and atomic resolution electron microscopy are described. Examples are given with observations in different materials. The beam-sample interaction is given special attention in order to avoid sample damage by an intense electron beam |
| Disciplinas: | Física y astronomía |
| Palabras clave: | Física atómica y molecular, Microscopía electrónica, Resolución atómica, Resolución espacial, Interacción del haz, Dosis electrónica |
| Keyword: | Atomic and molecular physics, Electron microscopy, Atomic resolution, Spatial resolution, Simple-beam interaction, Electron dose |
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