| Revista: | Journal of applied research and technology |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000370569 |
| ISSN: | 1665-6423 |
| Autores: | De León Aldaco, S. E1 Calleja Gjumlich, J. H1 Jiménez Grajales, H. R2 Chan Puc, F. I3 |
| Instituciones: | 1Centro Nacional de Investigación y Desarrollo Tecnológico, Departamento de Ingeniería Electrónica, Cuernavaca, Morelos. México 2Instituto de Investigaciones Eléctricas, Gerencia de Energías no Convencionales, Cuernavaca, Morelos. México 3Universidad de Quintana Roo, División de Ciencias e Ingeniería, Chetumal, Quintana Roo. México |
| Año: | 2013 |
| Periodo: | Feb |
| Volumen: | 11 |
| Número: | 1 |
| País: | México |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Experimental, aplicado |
| Resumen en español | En convertidores conmutados, los transistores de potencia son los componentes más vulnerables; para mejorar su confiabilidad es común el empleo de técnicas de sobre-dimensionamiento. En este artículo, la efectividad del sobredimensionamiento se valora de manera experimental, utilizando un convertidor CD-CD tipo push-pull como caso de estudio, operando en tres ambientes diferentes. La confiabilidad se predijo siguiendo el procedimiento en el MIL HDBK 217F, utilizando las mediciones de las variables eléctricas y temperatura. El análisis de sensitividad indica que la temperatura tiene el mayor impacto en la confiabilidad, seguido por el ambiente y la calidad de los dispositivos. Los resultados demuestran que un proceso de sobredimensionamiento basado únicamente en las especificaciones de CD no garantiza un comportamiento adecuado. Se proponen lineamientos adicionales para aumentar la confiabilidad de los circuitos de potencia |
| Resumen en inglés | Power transistors are the most vulnerable components in switching converters, and derating is usually applied to increase their reliability. In this paper, the effectiveness of derating guidelines is experimentally assessed using a push-pull DC-DC converter as a case study, operating in three different environments. After measuring the electrical variables and temperature, reliability was predicted following the guidelines in MIL HDBK 217F. The sensitivity analysis performed indicates that temperature has the largest impact on reliability, followed by environment and device quality. The results obtained demonstrate that a derating procedure based solely on DC ratings does not ensure an adequate performance. Therefore, additional guidelines are suggested to help increase the overall reliability obtained from a power circuit |
| Disciplinas: | Ingeniería |
| Palabras clave: | Ingeniería electrónica, Convertidores eléctricos, Transistores de potencia, Circuitos de potencia, Confiabilidad |
| Keyword: | Engineering, Electronic engineering, Electrical converters, Power transistors, Power circuits, Reliability |
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