| Revista: | Investigación y ciencia - Universidad Autónoma de Aguascalientes |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000437396 |
| ISSN: | 1665-4412 |
| Autores: | Flores Vázquez, Sergio Isauro1 López Hernández, Juan1 Rodríguez García, José Amparo1 Martínez Peña, Enrique1 Rocha Rangel, Enrique1 Armendáriz Mireles, Eddie Nahúm1 Martínez González, Karla Guadalupe2 Chávez García, Héctor2 |
| Instituciones: | 1Universidad Politécnica de Victoria, Ciudad Victoria, Tamaulipas. México 2KEMET de México, Planta Victoria, Ciudad Victoria, Tamaulipas. México |
| Año: | 2015 |
| Periodo: | Ene-Abr |
| Número: | 64 |
| Paginación: | 35-40 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico, descriptivo |
| Resumen en español | Los capacitores de tantalio de montaje superficial forman parte de una gran variedad de dispositivos electrónicos de uso masivo, como lo son los teléfonos móviles, televisores, tarjetas electrónicas, entre otros. Pueden presentar conexión marginal entre las uniones de sus elementos internos, lo que puede derivar en un mal funcionamiento o deterioro del dispositivo electrónico. En el presente trabajo se muestra un sistema capaz de detectar, de manera eficiente y eficaz, capacitores que presenten conexión marginal en diferentes porcentajes. Los resultados experimentales demuestran que es posible detectar conexiones marginales mediante la medición de temperatura en las terminales del capacitor operando bajo condiciones de estrés eléctrico |
| Resumen en inglés | Surface mount capacitors are part of a variety of widespread electronic devices such as mobile phones, televisions, electronic boards, etc. These capacitors may have marginal connection between the junctions of internal elements, which can lead to malfunction or damage to the electronic device. Inthis paper, a system capable of detecting a marginal connection at different percentages in capacitors efficiently and effectively is presented. Experimental results show that it is possible to detect marginal connections by measuring the temperature at the terminals of capacitor operating under electrical stress conditions |
| Disciplinas: | Ingeniería |
| Palabras clave: | Ingeniería electrónica, Capacitores, Tantalio, Montaje superficial, Dispositivos electrónicos |
| Keyword: | Electronic engineering, Capacitors, Tantalum, Superficial mounting, Electronic devices |
| Texto completo: | http://biblat.unam.mx/hevila/InvestigacionycienciaUniversidadautonomadeaguascalientes/2015/no64/5.pdf |
