Revista: | Instrumentation & development |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000192140 |
ISSN: | 0187-8549 |
Autores: | Starostenko, Oleg1 Vázquez Luna, José G Zehe, Alfred Khoma, Vladimir |
Instituciones: | 1Universidad de las Américas, Centro de Investigación, Cholula, Puebla. México 2Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Facultad de Ciencias Físico Matemáticas, Puebla. México 3Lviv State University Lvivska Polytechnica, Automation and Telemechanics Department, Lviv. Ucrania |
Año: | 2001 |
Periodo: | Mar |
Volumen: | 5 |
Número: | 1 |
Paginación: | 27-38 |
País: | México |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Disciplinas: | Física y astronomía, Ingeniería |
Palabras clave: | Física, Ingeniería electrónica, Métodos de medición, Exactitud, Corrección de errores, Mediciones de introducción, Análisis dimensional |
Keyword: | Physics and astronomy, Engineering, Physics, Electronic engineering, Measurement methods, Accuracy, Error correction, Immitance measurements, Dimensional analysis |
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