Sistema de barrido x-y de adquisicion de datos para el microscopio de efecto tunel (met)
Título del documento: Sistema de barrido x-y de adquisicion de datos para el microscopio de efecto tunel (met)
Revista: Instrumentación y desarrollo
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000020348
ISSN: 0187-8549
Autores: 1
Instituciones: 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, Mérida, Yucatán. México
Año:
Volumen: 3
Número: 3
Paginación: 125-128
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico, descriptivo
Disciplinas: Ingeniería,
Física y astronomía
Palabras clave: Ingeniería de control,
Ingeniería de instrumentos,
Física de materia condensada,
Barrido,
Cristales,
Efecto túnel,
Microscopios,
Piezoelectricos-cristales
Keyword: Engineering,
Physics and astronomy,
Control engineering,
Instrumentation engineering,
Condensed matter physics,
Scanning,
Crystals,
Microscopes,
Tunnel effect,
Piezoelectric crystals
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