Revista: | Instrumentación y desarrollo |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000020345 |
ISSN: | 0187-8549 |
Autores: | Ruiz, G1 Padilla, S |
Instituciones: | 1Universidad Nacional Autónoma de México, Ctr Instrumentos; Lab Metrologia, México, Distrito Federal. México |
Año: | 1993 |
Volumen: | 3 |
Número: | 3 |
Paginación: | 108-114 |
País: | México |
Idioma: | Español |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico, descriptivo |
Disciplinas: | Física y astronomía, Ingeniería |
Palabras clave: | Optica, Ingeniería de instrumentos, Ingeniería mecánica, Láser, Metrología, Barras patron, Interferometría, Patrones longitudinales |
Keyword: | Physics and astronomy, Engineering, Optics, Instrumentation engineering, Mechanical engineering, Laser, Metrology, Standard bars, Interferometry, Length standards |
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