Revista: | Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000099135 |
ISSN: | 0258-5944 |
Autores: | Trujillo Alvarado, H.S1 Bonat Hernandez, E |
Instituciones: | 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Fac Electronica, La Habana. Cuba |
Año: | 1988 |
Volumen: | 9 |
Número: | 2 |
Paginación: | 105-110 |
País: | Cuba |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Teórico |
Disciplinas: | Ingeniería, Ciencias de la computación |
Palabras clave: | Ingeniería electrónica, Semiconductores, Vida acelerada, Escalera-esfuerzos, Pruebas, Simulación |
Keyword: | Engineering, Computer science, Electronic engineering, Semiconductors, Accelerated life, Step-stress, Tests, Simulation |
Solicitud del documento | |