Obtencion de la caracteristica c-v de baja frecuencia con el dispositivo de medicion cid-0554
Título del documento: Obtencion de la caracteristica c-v de baja frecuencia con el dispositivo de medicion cid-0554
Revista: Ingeniería electrónica, automática y comunicaciones
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000114931
ISSN: 0258-5944
Autores: 1
2
Instituciones: 1Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría", Centro Inv Microelectrónica, La Habana. Cuba
2Instituto Central de Investigación Digital, La Habana. Cuba
Año:
Volumen: 13
Número: 2
Paginación: 47-51
País: Cuba
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Descriptivo, analítico
Disciplinas: Ingeniería
Palabras clave: Ingeniería eléctrica,
Ingeniería electrónica,
Semiconductores,
Capacitancia-voltaje,
Baja frecuencia,
Medición
Keyword: Engineering,
Electrical engineering,
Electronic engineering,
Semiconductors,
Capacitance-voltage,
Low frequency,
Measurement
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)