| Revista: | Epistemus (Sonora) |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000442007 |
| ISSN: | 2007-8196 |
| Autores: | Mendoza Córdova, Abraham1 Ochoa Landín, Ramón2 Flores Acosta, Mario3 |
| Instituciones: | 1Universidad de Sonora, Departamento de Geología, Hermosillo, Sonora. México 2Universidad de Sonora, Departamento de Física, Hermosillo, Sonora. México 3Universidad de Sonora, Departamento de Investigación en Física, Hermosillo, Sonora. México |
| Año: | 2016 |
| Volumen: | 10 |
| Número: | 21 |
| Paginación: | 93-98 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Aplicado, descriptivo |
| Resumen en español | Las películas delgadas son capas de materiales con espesores que van desde algunos cuantos nanómetros hasta algunos micrómetros, dichas capas son creadas por técnicas tanto físicas como químicas. Para la caracterización estructural de los materiales cristalinos en forma de películas es indispensable la técnica de difracción de rayos X (DRX). El difractómetro indicado para hacer las mediciones debe de incluir un accesorio conocido como espejo Gobel. En el presente trabajo se realizaron mediciones sobre películas de: CdS, AgOH y CdCO3 utilizando un difractómetro convencional de polvos sin espejo Gobel, los resultados fueron favorables ya que se obtuvieron los patrones de difracción de los materiales, observándose una mejor definición en las películas de mayor espesor |
| Resumen en inglés | The thin films are materials with layers, those can vary in thickness from nanometers to micrometers there are several ways to create this kind of layers by chemical and physical techniques. The x-ray diffraction technique is necessary to characterize the structural of crystalline materials as thin films. In order to realize the measurements the diffractometer needs to include the mirror known as Gobel. In this work we present some x-ray measurements of CdS, AgOH and CdCO3 thin films. Those measurements were made using the conventional powder diffractometer without Gobel mirror, the results were similar because thin films diffraction patterns were obtained and we could observe a better definition in the thin films with major thickness |
| Disciplinas: | Ingeniería |
| Palabras clave: | Ingeniería de materiales, Materiales cristalinos, Películas delgadas, Caracterización estructural, Difractómetros |
| Keyword: | Materials engineering, Crystalline materials, Thin films, Structural characterization, Diffractometers |
| Texto completo: | https://biblat.unam.mx/hevila/EpistemusCienciatecnologiaysalud/2016/no21/12.pdf |
