Un procedimiento en frecuencia de microondas para la medición de la conductividad eléctrica en semiconductores
Título del documento: Un procedimiento en frecuencia de microondas para la medición de la conductividad eléctrica en semiconductores
Revista: Científica (México, D.F.)
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000205379
ISSN: 1665-0654
Autores: 1
2
3
4
Instituciones: 1Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Instituto de Ciencias, Puebla. México
2Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Facultad de Ciencias Físico-Matemáticas, Puebla. México
3Universidad de las Américas, Centro de Investigación CENTIA, Cholula, Puebla. México
4Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Facultad de Ciencias de la Computación, Puebla. México
Año:
Periodo: Ene-Mar
Volumen: 7
Número: 1
Paginación: 9-18
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplinas: Ingeniería,
Física y astronomía
Palabras clave: Ingeniería de instrumentos,
Física de materia condensada,
Semiconductores,
Conductividad eléctrica,
Microondas,
Cavidades resonantes,
Técnicas de medición
Keyword: Engineering,
Physics and astronomy,
Instrumentation engineering,
Condensed matter physics,
Semiconductors,
Electric conductivity,
Microwaves,
Resonant cavities,
Measurement techniques
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