Model for determination of three -dimensional coordinates of hidden points



Título del documento: Model for determination of three -dimensional coordinates of hidden points
Revista: Boletim de ciencias geodesicas
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000406081
ISSN: 1413-4853
Autores: 1
1
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Instituciones: 1Universidade Federal do Parana, Programa de Pos-Graduacao em Ciencias Geodesicas, Curitiba, Parana. Brasil
Año:
Periodo: Ene-Mar
Volumen: 23
Número: 1
Paginación: 182-195
País: Brasil
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico, descriptivo
Resumen en inglés One of the problems encountered during surveys is obstruction of points to be monitored, an example of this can be found in industrial environments where there are usually pipes and equipment that do not allow the establishment o f straight lines;. An alternative to the application of topographic survey techniques is the use of plan e mirrors to diversion of straight lines where the points of interest are observed indirectly. This study presents a new approach to the problem, whose analytical solution is based on the principles of Geometrical Optics and Surveying. The relative position al accuracy achieved in the preliminary tests is submillimetric order, and the absolute positional accuracy is millimetric order
Resumen en portugués Um dos problemas encontrados durante levantamentos topográficos é a obstrução de pontos a serem monitorados, um exemplo deste empecilho é verificado em ambientes industriais, onde geralmente existem tubulações e equipamentos que não permitem o estabelecimento de linhas de visada direta. Uma alternativa par a aplicação de técnicas topográficas é o uso de espelhos planos para o desvio de linhas de visada, onde os pontos de interesse são observados indiretamente. Neste estudo é apresentada uma nova abordagem para o problema, cuja solução analítica baseia - se nos princípios da ótica geométrica e da topografia. Os ensaios preliminares indicam a viabilidade do modelo proposto, nos quais a precisão posicional relativa alcançada é de ordem submilimétrica, enquanto no posicionamento absoluto do ponto são de ordem milim étrica
Disciplinas: Ingeniería,
Ciencia y tecnología
Palabras clave: Ingeniería industrial,
Tecnología,
Optica,
Espejos planos,
Topografía
Keyword: Engineering,
Science and technology,
Industrial engineering,
Technology,
Optics,
Topography,
Plane mirror
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