| Revista: | Acta microscópica |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000272796 |
| ISSN: | 0798-4545 |
| Autores: | Ponce, A1 Sánchez Vergara, M.E2 Ruiz Farfán, M.A3 Ortiz, A Romeu, D |
| Instituciones: | 1Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Física, México, Distrito Federal. México 2Universidad Anáhuac, Escuela de Ingeniería, México, Distrito Federal. México 3Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Investigaciones en Materiales, México, Distrito Federal. México |
| Año: | 2005 |
| Volumen: | 14 |
| Número: | 1-2 |
| Paginación: | 22-26 |
| País: | Venezuela |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Experimental, analítico |
| Resumen en español | En este trabajo se han caracterizado ftalocianinas metálicas (FePc, CoPc, and PbPc) obtenidas en polvo y películas delgadas. Tal caracterización se ha llevado a cabo por microscopía electrónica de transmisión (TEM), difracción de rayos X (XRD) y microscopía de fuerza atómica (AFM). Además de la XRD, se ha empleado difracción de área selecta (SAED) para determinar las fases cristalinas presentes en las muestras en polvos. Las fases cristalinas de las ftalocianinas metálicas corresponden al politipo β-monoclínico. Las muestras se han obtenido en polvo por una síntesis orgánica y posteriormente estos polvos han sido evaporados térmicamente en una cámara de vacío y depositados en películas delgadas sobre sustratos de silicio (100). La topografía de las películas depositadas se ha estudiado por medio de AFM. Dicha topología muestra una superficie de agujas y granulares orientadas de forma aleatoria |
| Resumen en inglés | In the present work, powder and thin films of Metallic-Phthalocyanines (FePc, CoPc, and PbPc) have been characterized by transmission electron microscopy (TEM), X-ray diffraction (XRD), and atomic force microscopy (AFM). XRD and selected area electron diffraction (SAED) patterns were used to determine the crystalline structures of the phases in powder samples. The crystalline phases in the metallic-phthalocyanines correspond to β-monoclinic type. The samples have been obtained in powders by organic syntheses and subsequently, the powders have been deposited onto silicon (100) substrates by thermal evaporation in a vacuum chamber to obtain the thin films. The surface topography of the films has been characterized by AFM. Needle-like and granular features randomly oriented in the films are visible |
| Disciplinas: | Ingeniería, Ciencia y tecnología |
| Palabras clave: | Ingeniería de materiales, Tecnología, Difracción de rayos X, Difracción de electrones, Semiconductores, Ftalocianinas |
| Keyword: | Engineering, Science and technology, Materials engineering, Technology, Semiconductors, X-ray diffraction, Electron diffraction, Phthalocyanines |
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