| Revista: | Superficies y vacío |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000397190 |
| ISSN: | 1665-3521 |
| Autors: | Zapata Torres, M1 Fernández Muñoz, J.L1 Hernández Rodríguez, E2 Mis Fernández, R2 Rejón, V2 Peña, J.L2 Valaguez Velásquez, E3 Márquez Herrera, A4 |
| Institucions: | 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación en Ciencia Aplicada y Tecnología Avanzada, México, Distrito Federal. México 2Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, Mérida, Yucatán. México 3Instituto Politécnico Nacional, Unidad Profesional Interdisciplinaria en Ingeniería y Tecnologías Avanzadas, México, Distrito Federal. México 4Universidad de Guanajuato, Departamento de Ingeniería Mecánica Agrícola, Irapuato, Guanajuato. México |
| Any: | 2015 |
| Període: | Jun |
| Volum: | 28 |
| Número: | 2 |
| Paginació: | 61-65 |
| País: | México |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico |
| Resumen en inglés | ZnO thin films have been deposited on ITO coated glass substrates, using RF magnetron reactive sputtering from a Zn target. The ZnO films were annealed at 560 °C for 1 hour, in order to promote the diffusion of the ITO into ZnO. The properties of the samples were analyzed by X- ray diffraction (XRD), UV-Vis spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The ITO/ZnO interface showed a diffusion of 50 nm approximately. In order to study the effect of ZnO thickness, in the performance of the CdS/CdTe solar cell, we used an AMPS-1D solar simulator; the results showed that reduction of the ZnO thickness had a weak influence in the efficiency of the solar cell |
| Disciplines | Ingeniería, Física y astronomía |
| Paraules clau: | Ingeniería de materiales, Física, Películas delgadas, Oxido de zinc, Semiconductores, Celdas solares |
| Keyword: | Engineering, Physics and astronomy, Materials engineering, Physics, Thin films, Zinc oxide, Semiconductors, Solar cells |
| Text complet: | Texto completo (Ver PDF) |
