Revista: | Superficies y vacío |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000395100 |
ISSN: | 1665-3521 |
Autors: | Zapata Torres, M1 González Alcudia, M2 Meléndez Lira, M3 Calzadilla Amaya, O4 |
Institucions: | 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación en Ciencia Aplicada y Tecnología Avanzada, México, Distrito Federal. México 2Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación en Ciencia Aplicada y Tecnología Avanzada, Altamira, Tamaulipas. México 3Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México 4Universidad de La Habana, Facultad de Física, La Habana. Cuba |
Any: | 2006 |
Període: | Dic |
Volum: | 19 |
Número: | 4 |
Paginació: | 10-12 |
País: | México |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Resumen en inglés | CdTe:Eu films were grown by the pulsed laser deposition method on glass substrates. The targets were prepared with three different concentrations of Cd, Te and Eu employing CdTe and EuTe powders, homogenized by ball milling. X-ray diffraction measurements showed that the samples grown with a mixture of phases related with the structure of CdTe and EuTe, with a little increase of the lattice parameter. Scanning Electron micrographs revealed that CdTe:Eu films presented a texture similar to solidified drops. Optical transmission spectroscopy was used for determinate the band gap of samples. Raman spectroscopy results shown broadening of Raman features associated with the structure of CdTe and EuTe with nominal Eu content |
Disciplines | Física y astronomía, Ingeniería |
Paraules clau: | Física, Optica, Ingeniería de materiales, Depósito por láser pulsado, Películas delgadas, Espectroscopía óptica, Difracción de rayos X, Parámetros de red, Espectroscopía Raman |
Keyword: | Physics and astronomy, Engineering, Optics, Physics, Materials engineering, Pulsed laser deposition, Thin films, X-ray diffraction, Lattice parameters, Optical spectroscopy, Raman spectroscopy |
Text complet: | Texto completo (Ver PDF) |