Estudio del tiempo característico de llenado de trampas en GaAs y en puntos cuánticos de InAs por medio del análisis de espectros de fotorreflectancia



Título del documento: Estudio del tiempo característico de llenado de trampas en GaAs y en puntos cuánticos de InAs por medio del análisis de espectros de fotorreflectancia
Revista: Superficies y vacío
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000394778
ISSN: 1665-3521
Autores: 1
1
2
1
3
4
Instituciones: 1Universidad del Quindío, Laboratorio de Optoelectrónica, Armenia, Quindío. Colombia
2Universidad del Quindío, Armenia, Quindío. Colombia
3Universidad Nacional de Colombia, Laboratorio de Magnetismo y Materiales Avanzados, Manizales, Caldas. Colombia
4Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México
Año:
Periodo: Mar
Volumen: 28
Número: 1
Paginación: 1-4
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Experimental, analítico
Resumen en español En este trabajo se presentan los resultados del estudio del tiempo de llenado de trampas (τ) en un monocristal de GaAs y en puntos cuánticos autoensamblados (PCAs) de InAs, empleando el análisis de espectros de Fotorreflectancia (FR) a temperatura ambiente. Los PCAs fueron crecidos sobre un sustrato de GaAs por medio de la técnica de epitaxia de haces moleculares, mientras que la muestra de GaAs es un monocristal comercial. Los espectros de FR fueron tomados variando la frecuencia del haz modulador para valores comprendidos desde 80Hz hasta 3000Hz. Del respectivo análisis de los espectros de FR, se obtuvo la dependencia de la intensidad de la señal de Fotorreflectancia con la frecuencia de modulación. A partir del ajuste de los datos experimentales de la variación de la intensidad de la señal de FR con la frecuencia de modulación, se logró determinar que la presencia de los PCAs incrementan el valor de τ
Resumen en inglés In this paper it is presented the study of trap-filling time (τ) in a GaAs single crystal and InAs Self-assembled quantum dots (SAQDs), using the analysis of the photoreflectance (PR) spectra measured at room temperature. The SAQDs were grown on a GaAs substrate by molecular beam epitaxy (MBE), and GaAs sample is a commercial single crystal. The PR spectra were measured varying the chopper frequency from 80 Hz to 3000 Hz. From the analysis of these PR spectra, it was obtained the dependence of the PR signal intensity with the modulation frequency. By fitting these experimental data, it was determined that the presence of the SAQDs increases the value of τ
Disciplinas: Física y astronomía
Palabras clave: Física,
Física de partículas y campos cuánticos,
Fotorreflectancia,
Puntos cuánticos,
InAs,
Semiconductores
Keyword: Physics and astronomy,
Particle physics and quantum fields,
Physics,
Photoreflectance,
Quantum dots,
InAs,
Semiconductors
Texto completo: Texto completo (Ver PDF)