| Revista: | Superficies y vacío |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000404890 |
| ISSN: | 1665-3521 |
| Autors: | Casarrubias Segura, G1 Pal, U2 Vázquez López, C3 |
| Institucions: | 1Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Instituto de Física, Puebla. México 2Instituto Mexicano del Petróleo, México, Distrito Federal. México 3Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México |
| Any: | 2003 |
| Període: | Jun |
| Volum: | 16 |
| Número: | 2 |
| Paginació: | 8-11 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico |
| Resumen en español | Se realiza análisis estructural por difracción de rayos-X (XRD) a películas compósitas de Ge/ZnO. Las películas fueron depositadas por la técnica de "sputtering r.f." alternativa. Las películas compósitas se trataron térmicamente a diferentes temperaturas en ambiente de argón. Mediante las imágenes de Microscopia Electrónica de Transmisión (TEM) se observa la formación de nanopartículas de Ge distribuidas homogéneamente en la matriz de ZnO. El tamaño de las nanopartículas de Ge disminuye con el aumento de la temperatura. En los espectros XRD se revela la presencia de Ge en estado elemental y óxido de Ge en la matriz ZnO |
| Resumen en inglés | Structural analysis of Ge/ZnO composite filmes is made by X-ray diffraction (XRD). The composite films are deposited by alternate r.f. sputtering technique. The films are treated thermally at different temperatures in argon atmosphere. Transmission electron microscpic (TEM) images of the samples revealed the formation of Ge nanoparticles which are dispersed homogeneously in the ZnO matrix. The size of the Ge nanoparticles diminishes with the increase of the annealing temperature. In XRD pattern, the presence of Ge in elementary state and as oxide of Ge in the ZnO matrix are revealed |
| Disciplines | Física y astronomía, Ingeniería, Ciencia y tecnología |
| Paraules clau: | Física de materia condensada, Ingeniería de materiales, Tecnología, Películas delgadas, Difracción de rayos X, Germanio, Oxido de zinc, Nanocompuestos, Nanopartículas |
| Keyword: | Physics and astronomy, Engineering, Science and technology, Condensed matter physics, Materials engineering, Technology, Thin films, X-ray diffraction, Germanium, Zinc oxide, Nanocomposites, Nanoparticles |
| Text complet: | Texto completo (Ver PDF) |
