Revista: | Revista mexicana de física |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000157222 |
ISSN: | 0035-001X |
Autors: | Chavira, E1 Ramírez, E Navarro, O Baños, L Guzmán, J Vázquez, C |
Institucions: | 1Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Investigaciones en Materiales, México, Distrito Federal. México |
Any: | 1999 |
Període: | Jun |
Volum: | 45 |
Paginació: | 99-101 |
País: | México |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Disciplines | Física y astronomía, Ingeniería |
Paraules clau: | Física de materia condensada, Ingeniería de materiales, Compuestos inorgánicos, Rayos X, Difracción, Microscopía electrónica de barrido |
Keyword: | Physics and astronomy, Engineering, Condensed matter physics, Materials engineering, Inorganic compounds, X-rays, Diffraction, Scanning electron microscopy |
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