Revista: | Revista mexicana de física |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000245642 |
ISSN: | 0035-001X |
Autors: | Flores Llamas, I1 Kolokoltsev, O Svyryd, V |
Institucions: | 1Universidad Nacional Autónoma de México, Facultad de Ingeniería, México, Distrito Federal. México |
Any: | 2006 |
Període: | Feb |
Volum: | 52 |
Número: | 2 |
Paginació: | 75-78 |
País: | México |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Aplicado |
Disciplines | Ingeniería, Física y astronomía |
Paraules clau: | Ingeniería de materiales, Física, Sensores, Rejillas, Refractometría |
Keyword: | Engineering, Physics and astronomy, Materials engineering, Physics, Sensors, Gratings, Refractometry |
Text complet: | Texto completo (Ver PDF) |