Recuperación de perfiles a partir de la fase en la imagen en microscopía óptica de barrido
Título del documento: Recuperación de perfiles a partir de la fase en la imagen en microscopía óptica de barrido
Revista: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000171017
ISSN: 0035-001X
Autors: 1
Institucions: 1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Coordinación de Optica, Tonantzintla, Puebla. México
Any:
Període: Dic
Volum: 45
Número: 6
Paginació: 575-580
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplines Física y astronomía
Paraules clau: Física,
Optica,
Microscopía óptica de barrido,
Dispersión de luz,
Metrología,
Formación de imágenes,
Microscopía de interferencia
Keyword: Physics and astronomy,
Optics,
Physics,
Scanning optical microscopy,
Light scattering,
Metrology,
Image formation,
Interference microscopy
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