Revista: | Revista mexicana de física |
Base de datos: | PERIÓDICA |
Número de sistema: | 000171020 |
ISSN: | 0035-001X |
Autors: | Siqueiros, J.M1 Machorro, R Shu Wang Talavera, L.E Portelles, J Villa, F |
Institucions: | 1Universidad Nacional Autónoma de México, Centro de Ciencias de la Materia Condensada, Ensenada, Baja California. México 2Centro de Investigaciones en Optica A.C, León, Guanajuato. México |
Any: | 1999 |
Període: | Dic |
Volum: | 45 |
Número: | 6 |
Paginació: | 593-596 |
País: | México |
Idioma: | Inglés |
Tipo de documento: | Artículo |
Enfoque: | Analítico |
Disciplines | Física y astronomía |
Paraules clau: | Física, Física de materia condensada, Optica, Películas delgadas, Cromo, Propiedades ópticas, Elipsometría |
Keyword: | Physics and astronomy, Condensed matter physics, Optics, Physics, Thin films, Chromium, Optical properties, Ellipsometry |
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