Graphite thin film characterization using a simplified resonant near field scanning microwave microscope



Título del documento: Graphite thin film characterization using a simplified resonant near field scanning microwave microscope
Revista: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000370474
ISSN: 0035-001X
Autors: 1
1
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1
2
Institucions: 1Universidad Nacional Autónoma de México, Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnológico, México, Distrito Federal. México
2Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Física, México, Distrito Federal. México
Any:
Període: Ene-Feb
Volum: 60
Número: 1
Paginació: 88-94
País: México
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico, teórico
Resumen en español Presentamos una descripción del diseño de un microscopio de microondas altamente simplificado de exploración por barrido con resonador coaxial que opera en el campo cercano a 7.4 GHz configurado para la medición de la resistencia superficial y la obtención de imágenes topográficas con resolución micrométrica. El diseño de una sonda altamente estable permite la sintonización rápida de la frecuencia de resonancia mediante un sistema mecánico, y esto hace posible una implementación eficiente de la microscopía de microondas de campo cercano. Las imágenes y mediciones presentadas corresponden a una película de grafito granular no uniforme cuya resistencia superficial medida concuerda con los datos reportados en la literatura
Resumen en inglés We describe a highly simplified design for a coaxial resonant near field scanning microwave microscope operating at 7.4 GHz configured to measure surface resistance and obtain topographic images with micrometer resolution. This design for a resonant probe tip combined with a highly stable mechanical system developed to rapidly tune the resonant frequency enables a simplified and effective approach to implementing near field microwave microscopy. We present images and measurements performed on a non-uniform granular graphite film sample and the surface resistance results agree with data in the literature
Disciplines Física y astronomía
Paraules clau: Física de materia condensada,
Microscopía,
Resistencia superficial,
Imágenes topográficas,
Sonda resonante,
Frecuencia resonante
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Microscopy,
Surface resistance,
Topographic images,
Resonant probe,
Resonant frequency
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