| Revista: | Revista mexicana de física |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000450571 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Autors: | Martínez, J.A1 Valenzuela, J2 Hernández, M.P1 Herrera, J1 |
| Institucions: | 1Universidad de La Habana, Instituto de Ciencia y Tecnología de Materiales, La Habana. Cuba 2Universidad Nacional Autónoma de México, Centro de Nanociencias y Nanotecnología, Ensenada, Baja California. México |
| Any: | 2016 |
| Període: | Ene-Feb |
| Volum: | 62 |
| Número: | 1 |
| Paginació: | 45-50 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico, teórico |
| Resumen en español | El artículo muestra el trabajo para la automatización y control de un microscopio de barrido por efecto túnel (STM) construido por los autores. La interfase entre la computadora y el microscopio ha sido implementada por medio de una tarjeta de adquisicion de datos OMB-DaqBoard/2000. Un programa desarrollado en LabVIEW genera las seriales requeridas para el barrido X-Y, y simultáneamente adquiere los voltajes de Z relacionados con la corriente de tunel entre la punta y la muestra. El programa construye la imagen de microscopia de la superficie estudiada a partir de los voltajes Z. El proceso para la calibration del instrumento utilice) imágenes de resolución atómica de superficies conocidas |
| Resumen en inglés | This paper shows the work for the automation and control of a scanning tunneling microscope (STM) built by the authors. The interface between the computer and the microscope has been implemented by mean of the data acquisition board OMB-DaqBoard/2000. A developed software in LabVIEW generates the signals required for the X-Y scanning, and it simultaneously acquires the Z voltages, related to the tunneling current between the tip and the sample. The program constructs the microscopy images of the studied surface from the Z voltages. The process to calibrate the instrument using atomic resolution images of known samples is also presented |
| Disciplines | Física y astronomía |
| Paraules clau: | Física, Microscopios, Microscopía de efecto túnel, Instrumentación, Adquisición de datos |
| Keyword: | Physics, Microscopes, Scanning tunneling microscopy, Microscopy instrumentation, Data acquisition |
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