| Revista: | Revista mexicana de física |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000328364 |
| ISSN: | 0035-001X |
| Autors: | Kudriavtsev, Y1 Gallardo, S1 Villegas, A1 Ramírez, G1 Luna, M1 Aguilar, M1 Asomoza, René1 |
| Institucions: | 1Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, México, Distrito Federal. México |
| Any: | 2010 |
| Període: | Jun |
| Volum: | 56 |
| Número: | 3 |
| Paginació: | 204-207 |
| País: | México |
| Idioma: | Inglés |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Experimental |
| Resumen en español | Reportamos los resultados de análisis por SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) de concentración en profundidad de algunos elementos en un grupo de muestras de obsidiana hidratadas naturalmente. Se ha estudiado el mecanismo de penetración del agua en obsidiana y se ha observado que sólo existe penetración en la capa superficial. Sin embargo, el hidrogeno penetra en el sólido a través de un mecanismo aún desconocido; esta penetración no puede ser descrita por la ley de Fick con un coeficiente constante de difusión |
| Resumen en inglés | Depth profiling analysis of some elements in a set of naturally hydrated obsidian samples was performed by using Secondary Ion Mass Spectrometry. We have investigated the mechanism of water penetration into obsidian and have revealed that water penetrates into the top surface layer alone. From this layer atomic hydrogen penetrates into the obsidian bulk through a still unknown mechanism; the penetration cannot be described by Fick's law with a constant diffusion coefficient |
| Disciplines | Física y astronomía |
| Paraules clau: | Física, Optica, Datación por hidratación de obsidiana, SIMS, Espectrometría de masas de iones secundarios, Obsidiana |
| Keyword: | Physics and astronomy, Optics, Physics, Obsidian hydration dating, SIMS, Secondary ion mass spectrometry, Obsidian |
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