Aberration patterns in the optical testing surfaces using transport of intensity equation



Título del documento: Aberration patterns in the optical testing surfaces using transport of intensity equation
Revista: Revista mexicana de física
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000460921
ISSN: 0035-001X
Autors: 1
2
1
2
Institucions: 1Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Santa María Tonantzintla, Puebla. México
2Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, Ciudad de México. México
Any:
Període: Ene-Feb
Volum: 68
Número: 1
País: México
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico, teórico
Resumen en inglés Classic phase retrieval techniques use intensity patterns to obtain typical aberrations such as coma or astigmatism. However, the patterns obtained using the transport of intensity equation techniques have not been studied yet. In this work, we propose a method to obtain intensity distributions of some aberration wavefronts. We expect that this characterization method may facilitate new testing strategies in optical workshops
Disciplines Física y astronomía
Paraules clau: Optica,
Pruebas ópticas,
Ecuación de transporte de intensidad,
Wavefront,
Aberraciones
Keyword: Optics,
Aberrations,
Optical testing,
Transport of intensity equation (TIE),
Wavefront
Text complet: Texto completo (Ver HTML) Texto completo (Ver PDF)