| Revista: | Revista Facultad de Ingeniería. Universidad de Antioquia |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000323560 |
| ISSN: | 0120-6230 |
| Autors: | Gómez, Ariel1 Avila, Alba Graciela1 Massy, Gergory Ibrahim2 |
| Institucions: | 1Universidad de los Andes, Centro de Microelectrónica, Bogotá. Colombia 2Universidad de los Andes, Grupo de Electrónica y Sistemas de Telecomunicaciones, Bogotá. Colombia |
| Any: | 2009 |
| Període: | Dic |
| Número: | 50 |
| Paginació: | 31-40 |
| País: | Colombia |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico |
| Resumen en español | La microscopía de fuerza electrostática es una técnica de medición de propiedades eléctricas locales de materiales. Las mediciones de gradiente de fuerza eléctrica sobre muestras dieléctricas son sensibles no sólo a la distribución de carga inicial en la misma sino también a la carga inducida por la punta de prueba conductora. Interpretar las contribuciones de cada efecto de forma independiente constituye un reto vigente de la técnica. Se introduce un modelo teórico que permite estudiar los efectos de carga e inducción para muestras y puntas de prueba con geometrías reales. El mismo modelo a partir de mediciones de gradiente de fuerza estima la carga inicial de la muestra. Las estimaciones de gradiente de fuerza reproducen mediciones experimentales realizadas en muestras dieléctricas cargadas |
| Resumen en inglés | Electric force microscopy is a local technique for measuring electrical properties of materials. The electrostatic force gradient measurements on dielectric samples are sensitive not only to the initial charge distribution in the sample but also to the charge induced by the conductive bias cantilever. Interpreting the contribution of each single effect on the charge distribution images is a challenge in the existing EFM technique. Here, a theoretical model is introduced to study the charge and induction effect on charged dielectric samples and commercial geometries for EFM tips. This model estimates the initial charge of the sample based on force gradient measurements. Gradient force results reproduce experimental measurements performed on electrets samples |
| Disciplines | Física y astronomía |
| Paraules clau: | Electromagnetismo, Electrostática, Inducción de carga, Gradiente de fuerza, Dieléctricos, Microscopía, Modelos, Electret |
| Keyword: | Physics and astronomy, Electromagnetism, Electrostatics, Charge induction, Force gradient, Dielectrics, Microscopy, Models, Electret |
| Text complet: | Texto completo (Ver PDF) |
