A correlation between surface morphology and rheed intensity variation for growth of gaas by molecular beam epitaxy



Título del documento: A correlation between surface morphology and rheed intensity variation for growth of gaas by molecular beam epitaxy
Revista: Revista de fisica aplicada e instrumentacao
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000108395
ISSN: 0102-6895
Autors: 1
Institucions: 1Swiss Federal Institute of Technology, Institute of Microelectronics and Informatics, Lausana, Vaud. Suiza
Any:
Període: Sep
Volum: 5
Número: 3
Paginació: 285-303
País: Brasil
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplines Física y astronomía
Paraules clau: Física de materia condensada,
Películas delgadas,
Epitaxia,
Morfología,
Crecimiento,
Cinética
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
Thin films,
Epitaxy,
Morphology,
Growth,
Kinetics
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