Circuito integrado para la caracterización de materiales, procesos y dispositivos
Título del documento: Circuito integrado para la caracterización de materiales, procesos y dispositivos
Revista: Memoria Electro - Reunión Académica de Ingeniería Electrónica
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000115587
ISSN: 0185-4607
Autores: 1
Instituciones: 1Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Inst Ciencias, Dep Semiconductores, Puebla. México
2Instituto Nacional de Astrofísica, Optica y Electrónica, Dep Microelectronica, Tonantzintla, Puebla. México
Año:
Periodo: Oct
Número: 13
Paginación: 793-805
País: México
Idioma: Español
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Teórico, experimental
Disciplinas: Ingeniería
Palabras clave: Ingeniería electrónica,
Circuitos integrados,
Semiconductores,
Circuito-prueba,
Microelectrónica,
CMOS,
Medición,
MOS
Keyword: Engineering,
Electronic engineering,
Integrated circuits,
Semiconductors,
Test circuit,
Microelectronics,
CMOS,
Measurement,
Mos
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