| Revista: | Ingeniería. Investigación y tecnología |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000410197 |
| ISSN: | 1405-7743 |
| Autors: | Garduza González, Sergio1 Gómez Castañeda, Felipe2 Moreno Cadenas, José Antonio2 Ponce Ponce, Víctor Hugo3 |
| Institucions: | 1Instituto Politécnico Nacional, Unidad Profesional Interdisciplinaria en Ingeniería y Tecnologías Avanzadas, Ciudad de México. México 2Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados, Ciudad de México. México 3Instituto Politécnico Nacional, Centro de Investigación en Computación, Ciudad de México. México |
| Any: | 2016 |
| Període: | Abr-Jun |
| Volum: | 17 |
| Número: | 2 |
| Paginació: | 237-249 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Aplicado, descriptivo |
| Resumen en español | Un sensor de imagen CMOS se compone de matriz de sensado, lógica de selección fila/columna y convertidor analógico-digital. El desempeño de este último influye en el desempeño global del sensor de imagen. Una alternativa estudiada en los últimos años, es la arquitectura de sobremuestreo, que a diferencia de la tradicional arquitectura Nyquist, alcanza la misma razón señal a ruido, pero con cuantificador de 1-bit. Esta importante ventaja es atractiva para depender menos de las imperfecciones tecnológicas de los circuitos. Este artículo presenta el diseño de un prototipo sensor de imagen CMOS con prestaciones básicas para fotografía digital, que incluye matriz de fotodiodos, circuitos de selección fila/columna y modulador sigma-delta a nivel de 4-columnas. La modulación sigma-delta aprovecha la ventaja del sobremuestreo, disminuye el ruido de cuantificación en banda, es robusto y compatible con dispositivos MOSFET. Para el diseño del modulador se optimizó la razón señal a ruido, a través de un modelo comportamental. Todos los circuitos se implementaron con reglas de diseño de señal mixta y se fabricaron en un solo chip con tecnología CMOS estándar. Los resultados de mediciones e imágenes obtenidas con el prototipo muestran que la metodología de diseño que se utilizó es fiable. Este prototipo es un circuito VLSI y es la base del diseño de nuevos sistemas de detección fotónica para diversas aplicaciones |
| Resumen en inglés | A CMOS image sensors is composed of array pixel, row/column selection logic and analog to digital converter. The performance of this latter influences the image sensor overall performance. An alternative studied in recent years, is the oversampling architecture, unlike traditional Nyquist architecture, has the same signal to noise ratio, but with 1-bit quantizer. It is major advantage is attractive to reduce dependence on technological imperfections of the circuits. This paper presents the design of a prototype CMOS image sensor with basic performance to digital still-photography, which includes sigma-delta modulator at the 4-columns. The sigma -delta modulation takes advantage of oversampling, robustness and compatibility with MOSFET devices. To design the modulator, the SNR was optimized, through a model which includes noise sources. All circuits were implemented with mixed signal design rules and manufactured on a single chip using standard CMOS technology. The results of measurements and images obtained with the prototype show that the design methodology used is reliable. This prototype is a VLSI circuit and is the basis for the design of the new photodetection systems in other applications |
| Disciplines | Ingeniería |
| Paraules clau: | Ingeniería eléctrica, Sensores de imagen, Convertidor analógico-digital, Sobremuestreo, Densidad espectral de potencia, Modulación sigma-delta, CMOS, Transistores |
| Keyword: | Engineering, Electrical engineering, Image sensors, Analogic-digital converter, Oversampling, Power spectral density, Sigma-delta modulation, CMOS, Transistors |
| Text complet: | Texto completo (Ver HTML) |
