Caracterizacao de quartzo sintetico de grau optico por topografia de raios-X
Título del documento: Caracterizacao de quartzo sintetico de grau optico por topografia de raios-X
Revista: Ceramica (Sao Paulo)
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000141579
ISSN: 0366-6913
Autors: 1
Institucions: 1Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Mecanica, Campinas, Sao Paulo. Brasil
Any:
Període: Sep-Oct
Volum: 42
Número: 277
Paginació: 630-633
País: Brasil
Idioma: Portugués
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Experimental, descriptivo
Disciplines Física y astronomía,
Química
Paraules clau: Física de materia condensada,
Química inorgánica,
Cuarzo sintético,
Optica,
Rayos X,
Difracción
Keyword: Physics and astronomy,
Chemistry,
Condensed matter physics,
Inorganic chemistry,
Synthetic quartz,
Optics,
X-rays,
Diffraction
Solicitud del documento
Nota: El envío del documento tiene costo.









Los documentos originales pueden ser consultados en el Departamento de Información y Servicios Documentales, ubicado en el Anexo de la Dirección General de Bibliotecas (DGB), circuito de la Investigación Científica a un costado del Auditorio Nabor Carrillo, zona de Institutos entre Física y Astronomía. Ciudad Universitaria UNAM. Ver mapa
Mayores informes: Departamento de Información y Servicios Documentales, Tels. (5255) 5622-3960, 5622-3964, e-mail: sinfo@dgb.unam.mx, Horario: Lunes a viernes (8 a 16 hrs.)