Quantitative xps : intensity correction from the attenuation of a top layer
Título del documento: Quantitative xps : intensity correction from the attenuation of a top layer
Revista: Acta científica venezolana
Base de datos: PERIÓDICA
Número de sistema: 000022444
ISSN: 0001-5504
Autors: 1
Institucions: 1Instituto Tecnológico Venezolano del Petróleo, Caracas, Distrito Federal. Venezuela
Any:
Volum: 44
Número: 4
Paginació: 215-217
País: Venezuela
Idioma: Inglés
Tipo de documento: Artículo
Enfoque: Analítico
Disciplines Física y astronomía
Paraules clau: Física de materia condensada,
Rayos X,
Espectroscopía,
Fotoelectronica,
Capas superficiales,
Perfiles-profundidad
Keyword: Physics and astronomy,
Condensed matter physics,
X-rays,
Top layers,
Spectroscopy,
Depth profiling,
Photoelectronics
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